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  • 電氣絕緣介電常數(shù)儀
    電氣絕緣介電常數(shù)儀

    電氣絕緣介電常數(shù)儀介質(zhì)在外加電場時會產(chǎn)生感應(yīng)電荷而削弱電場,原外加電場(真空中)與終介質(zhì)中電場比值即為介電常數(shù)。電介質(zhì)經(jīng)常是絕緣體。其例子包括瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料,和各種金屬氧化物。有些液體和氣體可以作為好的電介質(zhì)材料。干空氣是良好的電介質(zhì)

    更新日期:2024-12-04型號:訪問量:2242
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  • 絕緣紙介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀
    絕緣紙介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀

    QS37a型絕緣紙介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀是本公司推出的新一代絕緣紙介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀,主要用于測量高壓工業(yè)絕緣介質(zhì)損耗角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路,主要可以測量各種絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗(tgδ)和電容量(C)及介電常數(shù)(ε)。

    更新日期:2024-12-04型號:訪問量:1940
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  • 介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀
    介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀

    高頻 介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀 系統(tǒng)由S916測試裝置(夾具)、LJD-A/B/C型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件(裝入LJD-A/B或LJD-C的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作

    更新日期:2024-12-04型號:訪問量:2468
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  • LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀
    LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

    LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)高的160MHz。 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能

    更新日期:2024-12-04型號:LJD-C訪問量:2037
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  • LJD系列介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀
    LJD系列介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀

    LJD系列介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀自動介電常數(shù)測試時,基本步驟同手動一樣,只是主機(jī)支持通過數(shù)據(jù)模塊記錄S916測試夾具的數(shù)據(jù),并自動計算出介電常數(shù)。 2.使用數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換連接線,連接S916數(shù)據(jù)傳輸接口和介電常數(shù)測試主機(jī)背板上的四芯插座

    更新日期:2024-12-04型號:訪問量:2393
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  • 陶瓷材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗檢測儀
    陶瓷材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗檢測儀

    陶瓷材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗檢測儀$n  QS37a型絕緣紙介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀是本公司推出的新一代絕緣紙介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀,主要用于測量高壓工業(yè)絕緣介質(zhì)損耗角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路,主要可以測量各種絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗(tgδ)和電容量(C)及介電常數(shù)(ε)。

    更新日期:2024-12-04型號:訪問量:2329
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  • LJD-C絕緣材料介電常數(shù)測試儀
    LJD-C絕緣材料介電常數(shù)測試儀

    絕緣材料介電常數(shù)測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達(dá)到160MHz.LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項技術(shù):雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

    更新日期:2024-12-04型號:LJD-C訪問量:2009
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  • LJD-C高頻介電常數(shù)測定儀
    LJD-C高頻介電常數(shù)測定儀

    高頻介電常數(shù)測定儀概述 介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì),通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。

    更新日期:2024-12-04型號:LJD-C訪問量:2617
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